TechShape.ru

Информационные технологии

Основные разделы

Пути построения анализаторов цепей СВЧ на основе рефлектометров

Сверхвысокие частоты получают все более широкое применение в современном мире. Интенсивное развитие беспроводной связи, радиолокационных систем, а также сфера научных исследований невозможны без применения техники СВЧ устройств. С каждым годом требования к параметрам устройств работающих в диапазоне СВЧ увеличивается, вследствие чего возникает необходимость создания специальных средств измерения, проверки и настройки устройств СВЧ.

Для таких целей используют измерители комплексных коэффициентов передачи и отражения (модуля и фазы) четырехполюсников СВЧ. Такие измерители еще называют измерителями S - параметров. Для измерения S-параметров используют векторные анализаторы и импульсные рефлектометры. В свою очередь для создания измерителей комплексных коэффициентов передачи и отражения необходима теоретическая и технологическая основа, позволяющая достичь требования предъявляемых к их точности измерения.

Сейчас момент в мире существует аппаратура позволяющая измерять комплексные коэффициенты передачи и отражения в диапазоне частот до 110 ГГц и амплитудном диапазоне до 136 дБ [1].

Основной целью для разработчиков измерителей комплексных коэффициентов передачи и отражения СВЧ устройств - является увеличение частотного и амплитудного диапазона измеряемых величин.

Измерители комплексных коэффициентов передачи и отражения строятся на основе пары рефлектометров, каждый из которых состоит из двух встречно включенных направленных ответвителей (НО). Применяемые НО влияют на точность измерения. В существующих методах измерений данные влияния учитываются не полностью, что не позволяет проводить измерения выше определенных пределов.

Одним из способов увеличения амплитудного диапазона измеряемых сигналов является математическая коррекция. В частности на измеряемый амплитудный диапазон влияют так называемые собственные параметры измерительной схемы измерителей комплексных коэффициентов передачи и отражения. Задача математической коррекции заключается в измерении собственных S - параметров измерительной системы с последующей корректировкой при обработке результатов измерения испытуемого СВЧ устройства.

    Еще статьи

    Интегральные микросхемы
    Современный этап научно-технического прогресса характеризуется повсеместным внедрением принципиально новой техники. Ускорение научно-технического прогресса в значительной степени зависит от успехов современной микроэлектроники, являющейся современной элементной базой электронных устройств автоматики, т ...

    Все права защищены! 2018 - www.techshape.ru