TechShape.ru

Информационные технологии

Основные разделы

Построение алгоритма диагностирования

Задача построения алгоритма диагностирования дискретного последовательного объекта заключается в том, чтобы не прибегая к разрыву обратных связей в объекте, построить такую последовательность входных наборов, при которых ответные последовательности выходных наборов объекта позволяют выделить возможные в нем объекты. При этом предполагается, что, хотя исходные состояния элементов памяти объекта и неизвестны, всегда найдется последовательность входных наборов фиксированной длины, позволяющая перевести исправный объект в любое достижимое состояние. Для реальных объектов указанное требование вполне естественно и реализуемо [1].

Т. к. объекты с памятью представляют определенную сложность при диагностировании, то целесообразно диагностировать однофазный тиристорный полууправляемый выпрямитель по частям (ввиду полной симметрии схемы). Для этого нашу схему разделим на две половины, логическая сеть которых аналогична однофазному однополупериодному выпрямителю. Для работы с разными частями схемы надо ввести переключатель каналов.

Построим алгоритм диагностирования силовой части ТП при работе на двигатель постоянного тока. В соответствии с логической моделью (рис. 2) рассматриваемого объекта и логическими соотношениями для нее выходные сигналы в текущем такте времени:

Рис. 3

Для определения входных наборов, различающих исправное и неисправное состояние объекта, представим последнее выражение в ЭНФ:

В общем случае для логических схем с разветвлениями каждая буква терма (произведение букв) соответствует входному сигналу или его инверсии с индексом. Логичнее дефекты силовой части ТП отражать в форме допустимости входных или выходных сигналов модели. Тогда входящие в последние соотношение буквы будут представлять соответствующие им дефекты ТП, а термы - содержать сочетания взаимосвязанных дефектов.

В общем виде букву в ЭНФ обозначают символом и придают ему значение и в зависимости от того, какого типа дефект проверяется (0 или 1). При этом:

для проверки на дефект типа 0 достаточно принять все буквы хотя бы одного терма в ЭФН, содержащего равными 1, и в каждом из остальных термов - хотя бы одну букву принять равной нулю;

для проверки на дефект типа 1 достаточно хотя бы в одном терме, содержащем , принять равной 0, а значения из остальных букв этого терма - равными 1, при этом в каждом из остальных термов принять хотя бы одну букву равной 0;

Произведем проверку букв соотношения на (табл.1):

Таблица 1

Z5(v)= (X1 X2 X3 X6) v [X1 X3 X6Z1(v-1)]v (X4X5) v Z4

1

1

1

1

1

1

1

1

0

0

0

0

2

1

0

1

1

1

1

1

1

0

0

0

3

0

0

0

0

0

0

0

0

1

1

0

4

0

0

0

0

0

0

0

0

0

0

1

Перейти на страницу: 1 2 3 4 5 6

Еще статьи

Проектирование микроэлектронной аппаратуры на цифровых интегральных микросхемах
ПОВОЛЖСКИЙ ФИЛИАЛ МОСКОВСКОГО ИНСТИТУТА ИНЖЕНЕРОВ ТРАНСПОРТА Курсовая работа по электронике Студента 3 курса: Федотова Алексея Андреевича Шифр: 0930-пАТС-8217 Вариант № 8217 Проверил: Мухамбетов Вячеслав Владимирович ...

Все права защищены! 2021 - www.techshape.ru